正置金相顯微鏡包括透射、反射兩種照明系統(tǒng)，通俗地講就是上下兩個(gè)光源，正置金相顯微鏡主要觀察金屬陶瓷、電子芯片、印刷電路、LCD基板、薄膜、纖維、顆粒狀物體、鍍層等材料表面的結(jié)構(gòu)、痕跡等，所以正置金相顯微鏡也叫多功能金相顯微鏡。非常適用于科研單位使用，因?yàn)樗麄円芯康牟牧媳容^多。

    倒置金相顯微鏡主要應(yīng)用于鑄造、冶煉、熱處理的研究，原材料檢驗(yàn)或材料處理分析等。

    視場(chǎng)光闌、孔徑光闌、燈箱的位置，倒置金相顯微鏡的視場(chǎng)光闌、孔徑光闌、燈箱都是在物鏡后邊，正置金相顯微鏡的視場(chǎng)光闌、孔徑光闌、燈箱都是在目鏡筒的后面。

    載物臺(tái)的位置，倒置金相顯微鏡載物臺(tái)是在目鏡筒的后面，正置金相顯微鏡載物臺(tái)在目鏡筒的前面。試樣位置不合適需要調(diào)整的話(huà)，在我們面前的試樣更容易調(diào)整，從這點(diǎn)來(lái)看正置金相顯微鏡更符合人們的使用習(xí)慣。

    物鏡的位置，倒置金相顯微鏡的物鏡是在載物臺(tái)的下方，正置金相顯微鏡的物鏡是在載物臺(tái)的上方。正因?yàn)槿绱说怪媒鹣囡@微鏡對(duì)試樣高度沒(méi)有限制，而正置金相顯微鏡限制試樣的高度，它的高度取決于載物臺(tái)上下移動(dòng)的距離，一般高度不超過(guò)30mm。所以企業(yè)做金相檢驗(yàn)用倒置金相顯微鏡更合適，試樣大點(diǎn)或小點(diǎn)都無(wú)所謂。

    還有一點(diǎn)是倒置金相顯微鏡是將要檢測(cè)的試樣那面倒扣在載物臺(tái)上，只需要將那面試樣制好就可以了。正置金相顯微鏡需要試樣兩面在一條平行線上才能觀察，制樣也需要制兩面。從制樣的角度分析也是用倒置金相顯微鏡更合適，但是正置金相雖然對(duì)制樣的要求高，但是更容易找像，總之兩者都有各自的應(yīng)用范圍。

    以上這些就是倒置金相顯微鏡和正置金相顯微鏡的區(qū)別，可以根據(jù)實(shí)際情況及使用習(xí)慣選擇相應(yīng)的顯微鏡。